パナソニックプロダクションエンジニアリングは、「スマートフォン用カメラの進化を支える高精度三次元測定機の開発｣の功績に対し、公益財団法人市村清新技術財団より､第53回市村産業賞の貢献賞を受賞した｡
高精度3次元測定機は､第34回市村産業賞において｢原子間カプローブ搭載超高精度3次元測定機の開発と実用化｣で功績賞を受賞しており､2回目の受賞になる。

■受賞内容
テーマ：｢スマートフォン用カメラの進化を支える高精度三次元測定機の開発｣。
受賞者：パナソニックプロダクションエンジニアリング(株)標準機事業センター標準機技術一部 半田宏治氏､田中仁氏､舟橋隆憲氏。
技術内容：スマートフォン用カメラの多画素化や多眼化に伴うレンズの小型･高性能化を実現するため､レンズ及び､レンズユニットの3次元形状をナノオーダーで測定可能な以下の測定技術を開発した。
(1)測定物の垂直な面において±50nm以下の世界最高精度の測定を実現した側面測定技術､及び側面測定技術と従来の上面測定技術を融合し､レンズユニット全体形状を±100nm以下の精度で評価する三次元形状評価技術。
(2)レンズ等の面形状を従来比1/4(±10nm以下)で高精度測定､および75度までの高傾斜部の測定を実現した新上面測定技術。
以上により､スマートフォン用カメラ市場のニーズを満たす新たな超高精度3次元測定機(UA3P)の開発、実用化を行った。

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